[22a-H113-1~8] 6.6 Probe Microscopy

[22a-H113-2] Analysis of surface electronic states using nc-AFM with a charge amplifier

〇Makoto Nogami¹, Toyoko Arai², Akira Sasahara¹, Masahiko Tomitori¹ (1.JAIST, 2.Kanazawa Univ.)

Keywords:charge amplifier,capacitance,contact potential difference

nc-AFMにチャージアンプを組込んだ計測により、チャージアンプ出力から探針-試料間の静電容量と接触電位差の計測ができる。今回、CA出力の詳細な検証を行ったので報告する。
実際に計測されたチャージアンプ出力を、計算により得られた静電容量および接触電位差を用いて検証した。チャージアンプの広帯域特性から、高速な表面電子状態計測手法となり得ることを示す。