[22a-H113-1~8] 6.6 プローブ顕微鏡

[22a-H113-6] SNDM線形誘電率ナノイメージングに関する有限要素法シミュレーション

〇平永 良臣¹、茅根 慎通¹、長 康雄¹ (1.東北大通研)

キーワード：プローブ顕微鏡、誘電率、有限要素法