[22a-W351-1~10] 12.3 Functional Materials and Novel Devices

[22a-W351-2] Depth analysis of molecular Orientation in semiconductive polymer thin films

Tasuku Mizuno¹, Keita Ohno¹, Mitsuo Hara¹, 〇Shusaku Nagano², Katsuhiro Yamamoto³, Takahiro Seki¹ (1.Nagoya Univ., 2.Nagoya Univ. VBL, 3.Nagoya Inst. Tech.)

Keywords:grazing incidence X-ray scattering,semiconductive polymer,thin film

斜入射X線散乱測定のX線入射角を変えて測定を行い、スピンコートにより作製したHT-P3HTおよびN2200薄膜の深さ方向の分子配向構造解析を行った。HT-P3HT膜は、最表面ににてedge-on配向を示し、基板近傍ではface-on配向となることが明らかとなった。