2016年第63回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

12 有機分子・バイオエレクトロニクス » 12.2 評価・基礎物性

[22a-W631-1~12] 12.2 評価・基礎物性

2016年3月22日(火) 09:00 〜 12:15 W631 (西6号館)

金井 要(東理大)、大戸 達彦(阪大)

10:00 〜 10:15

[22a-W631-5] 波長掃引型紫外光電子分光による状態密度のワイドレンジ計測:
サブppmレベルの超高感度検出

佐藤 友哉1、金城 拓海1、山崎 純暉1、石井 久夫1,2,3 (1.千葉大融合、2.千葉大先進、3.千葉大MCRC)

キーワード:高感度紫外光電子分光