2017年第78回応用物理学会秋季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

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[5a-A414-1~9] 3.8 光計測技術・機器

2017年9月5日(火) 09:15 〜 11:45 A414 (414)

柴田 泰邦(首都大)、大久保 章(産総研)

10:30 〜 10:45

[5a-A414-5] 微小試料の高精度屈折率計測のための顕微偏光解析装置の開発

津留 俊英1、八木 浩司1 (1.山形大地教)

キーワード:偏光解析、屈折率

斑晶鉱物や火山ガラスを含むテフラ(火山灰)を同定する手法として屈折率計測が用いられている。テフラは微小であるため位相差顕微鏡下の浸液法が一般的に使われる。本研究では、微小試料の屈折率を物理的に直接計測するために、消光型エリプソメーターとシュバルツシルト反射対物ミラーを組み合わせた顕微偏光解析装置を作製した。計測原理と計測例について報告する。