[5a-S44-1~11] 【CS.9】7.1 X線技術と7.4 量子ビーム界面構造計測のコードシェアセッション

[5a-S44-1] 絶縁性物質に侵入する軟Ｘ線の光路に沿って形成される導電パスの検証

〇村松 康司¹ (1.兵県大院工)

キーワード：放射光、軟Ｘ線、Ｘ線吸収分光

我々は絶縁性膜を導電性基板に密着させた状態で軟X線を照射すれば，導電性基板を介して容易に絶縁性膜の全電子収量を計測できることを見出した。これは軟X線が通過する近傍に導電パスが形成されるためであると推察された。今回はこの導電パスの形成を実証する実験を重ねた。膜厚方向に流れる試料電流値はランベルトベールの法則に則ることを確認し，軟Ｘ線の通過に伴う導電パスが内部に形成されることを明らかにした。