[5p-A504-1~17] 12.2 Characterization and Materials Physics

[5p-A504-1] [JSAP Young Scientist Award Speech] Direct Observation of Negative Carriers Injected into an Organic Transistor Structure Observed by High-Sensitivity Photoelectron Yield Spectroscopy

〇Keitaro Ikegami¹, Hiroumi Kinjo¹, Tomoya Sato¹, Yuya Tanaka^1,2, Hisao Ishii^1,2,3 (1.Graduate School of Science and Engineering, Chiba Univ., 2.CFS, Chiba Univ., 3.MCRC, Chiba Univ.)

Keywords:Operando Photoelectron Yield Spectroscopy, Negative Carrier, Electronic Structure

我々はFET構造を測定対象とした超高感度光電子収量分光(PYS)を試みた。光電子分光(PES)では不均一電場やチャージアップが懸念されるFET構造においてPYSを用いることを考案し、実際に電極から有機層に電子注入した負イオン(占有された中性分子のLUMO)の直接観測に初めて成功した。本来の伝導キャリア状態である負イオンを直接観察できることの意義は極めて大きい。講演では、新たに測定したアンビポーラ材料であるPentaceneの結果についても報告する。