2017年第78回応用物理学会秋季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

12 有機分子・バイオエレクトロニクス » 12.2 評価・基礎物性

[5p-A504-1~17] 12.2 評価・基礎物性

2017年9月5日(火) 13:45 〜 18:15 A504 (504+505)

山田 洋一(筑波大)、筒井 真楠(阪大)

16:30 〜 16:45

[5p-A504-11] [有機分子・バイオエレクトロニクス分科会奨励賞受賞記念講演] 表面増強ラマン散乱を活用した単分子接合における界面構造の解明

金子 哲1 (1.東工大理)

キーワード:単分子接合、表面増強ラマン散乱

次世代の電子素子として単分子接合が注目を集めている。その界面構造は電子輸送特性に大きな影響を与えるため、界面構造の解明は重要である。本研究では、電流-電圧(I-V)特性と表面増強ラマン散乱(SERS)の同時計測により、単分子接合の界面構造の解明を行った。1’4-ベンゼンジチオールに同時計測を適用したところ、3種類の異なる分子吸着サイトを優先的にとり、吸着サイト選択的にBridge サイトでのみSERS増強が観測されることが明らかとなった。