[5p-A504-1~17] 12.2 評価・基礎物性

[5p-A504-12] 金属ナノ接合におけるジュール熱評価

〇筒井 真楠¹、森川 高典¹、谷口 正輝¹ (1.阪大産研)

キーワード：ナノコンタクト、ブレークジャンクション、センサ

単原子・分子デバイスでは、素子の大きさが電子の平均自由工程より小さくなるため、電荷キャリアはほとんど散乱されることなく素子を透過する一方、通電時に生じる大きな電流密度のため振電相互作用に伴う著しい局所加熱が生じ、素子安定性が劣化することが知られている。本研究では、まだ調べられてきていないこの電極内におけるジュール熱による原子・分子素子の不安定化の可能性について調べてきたので、その結果を報告する。