[5p-A504-1~17] 12.2 Characterization and Materials Physics

[5p-A504-3] Formation of monoanions C₆₀^- and dianions C₆₀^2- at the interface with a low work function surface

〇Mizuki Sagami¹, Yuki Kashimoto¹, Hiroyuki Yoshida¹ (1.Chiba Univ.)

Keywords:organic semiconductor, inverse photoelectron spectroscopy, interface

有機半導体デバイスの電極―有機層界面での電子準位接続は性能に大きな影響を与える。しかし電子注入・収集障壁に関わる空準位の電子準位接続については、ほとんど未解明である。我々は低エネルギー逆光電子分光法を用いて、電子親和力4.0 eVのC₆₀と仕事関数2.3 eVのCs₂CO₃の界面空準位電子状態を精査した。その結果、Cs₂CO₃からC₆₀へ整数個の電子が移動し、1価負イオンだけでなく、2価負イオンが生成することがわかった。