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[5p-PA2-27] Alq3薄膜へのロータリーカソードAlスパッタダメージ評価Ⅱ
キーワード:スパッタリング
有機ELパネルの更なる大型化に向けて,スパッタリングによる上部電極製膜を検討している.本研究では,Alロータリーカソードの内部マグネットの角度と成膜位置によるダメージ量をAlq3薄膜のフォトルミネッセンス(PL)測定により評価した.静止成膜の結果,成膜時間が長くなるにつれてPL強度が低下した.200 nmのAl膜厚でもスパッタダメージを受けることがわかった.