[5p-PB3-1~26] 16.3 シリコン系太陽電池

[5p-PB3-8] 光制御下における結晶p型Si/ITO界面の断面仕事関数測定

〇(PC)山田 郁彦¹、神岡 武文¹、大下 祥雄¹、神谷 格¹ (1.豊田工大)

キーワード：KFM、界面、ITO

Si太陽電池の性能は表面層間の電気的接触に強く依存する。そこで、我々は表面層界面の電気的接触を解明するため、ケルビンプローブ顕微鏡(KFM)による劈開面の局所的な仕事関数測定を行っている。当研究ではSiとITOの混合の心配が少ないp型結晶Si(p-cSi)/ITO界面の仕事関数測定を光制御下で行った。