[6a-A414-1~10] 3.8 光計測技術・機器

△ [6a-A414-4] 光コムのキャリア位相とパルスエンベロープ検出干渉計を用いた空気屈折率補正の長光路化

〇牧野 智大^1,2、熊 士林³、吴 冠豪³、シブリ トーマス⁴、中嶋 善晶^1,2、美濃島 薫^1,2 (1.電通大、2.JST, ERATO美濃島知的光シンセサイザ、3.清華大、4.コロラド大)

キーワード：光周波数コム、干渉計、空気屈折率補正

精密な光学的距離計測において、従来の経験式を用いた空気屈折率補正法に代わる手法として2色法が知られている。既に開発した光コムの基本波と第二高調波を用いた干渉計では、光学系の色収差による精度への影響が懸念されていた。本研究では、単一波長で2色法を適用するために、光コムのキャリア位相とパルスエンベロープ用いた干渉計の開発を行っている。今回は、本手法の効果を更に高精度に評価することを目指した。