[6a-C24-1~9] 6.6 Probe Microscopy

△ [6a-C24-3] A study on fabrication methods of spherical tip for Casimir Force measurement.

〇Kazuhiko Higashino¹, Naoki Yoshida^1,2, Satoshi Hiura¹, Agus Subagyo¹, Eiji Hatta¹, Kazuhisa Sueoka¹ (1.GSIST, Hokkaido Univ., 2.JSPS Research Fellow)

Keywords:Casimir effect, Atomic force microscopy, Spherical probe

ナノスケール領域で働く力の一つにカシミール力がある。カシミール力は真空中の電磁場の揺らぎに起因して物体間に働く相互作用力である。ナノスケールにおいては、探針や試料の表面粗さの影響が顕著になり、カシミール力の評価は困難になる。そこで、本研究では凹凸の少ない球を用意し、その球をカンチレバーに接着することで、表面粗さをおさえた球形探針の作製を試みた。