2017年第78回応用物理学会秋季学術講演会

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CS コードシェアセッション » 【CS.9】7.1 X線技術と7.4 量子ビーム界面構造計測のコードシェアセッション

[6a-S41-1~11] 【CS.9】7.1 X線技術と7.4 量子ビーム界面構造計測のコードシェアセッション

2017年9月6日(水) 09:00 〜 12:15 S41 (第1会議室)

白澤 徹郎(産総研)、鈴木 秀士(名大)、和達 大樹(東大)

11:45 〜 12:00

[6a-S41-10] マイクロピクセルチャンバーを用いた中性子反射率イメージング

桜井 健次1、蒋 金星1、水沢 まり1,2、伊藤 崇芳2、ジョセフ パーカー2、原田 正英3、及川 健一3 (1.物材機構、2.CROSS、3.原子力機構)

キーワード:イメージング、空間分解能、全反射

薄膜・多層膜の機能は界面や層構造の不均一さに支配されることが少なくない。本研究ではX線とは異なる特色あるコントラストを与える非破壊的な解析法である中性子反射率法に画像機能を付与するための技術開発を行っている。中性子マイクロピクセルチャンバーを用いた実験結果を報告する。