2017年第78回応用物理学会秋季学術講演会

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CS コードシェアセッション » 【CS.9】7.1 X線技術と7.4 量子ビーム界面構造計測のコードシェアセッション

[6a-S41-1~11] 【CS.9】7.1 X線技術と7.4 量子ビーム界面構造計測のコードシェアセッション

2017年9月6日(水) 09:00 〜 12:15 S41 (第1会議室)

白澤 徹郎(産総研)、鈴木 秀士(名大)、和達 大樹(東大)

10:00 〜 10:15

[6a-S41-5] 高速かつ大視野を特徴とするX線位相敏感スキャナーの開発

影山 将史1、岡島 健一1、前澤 稔1、野々口 雅弘1、小池 崇文1、野口 学1、山田 鮎太1、森田 円史1、川瀬 里美1、栗林 勝1、原 幸寛1、バッチェ シバジ2、百生 敦2 (1.㈱リガク、2.東北大)

キーワード:X線撮像法、位相コントラスト、干渉計

従来研究分野向けであったX線位相コントラスト撮像法であったが、今回非破壊検査等の産業利用を目指し、高速(10 mm/sec)かつ大視野(220 mm)を特徴とするX線位相敏感スキャナーを新たに開発した。本発表では具体的な装置の構成や装置を用いた測定例について紹介する。