[6p-A202-1~7] 酸化物のテラヘルツ光物性とデバイス応用への展望

[6p-A202-1] テラヘルツ放射顕微鏡による酸化物および関連物質の評価

〇斗内 政吉¹ (1.阪大レーザー研)

キーワード：テラヘルツ放射顕微鏡、テラヘルツ物性

酸化物に関するテラヘルツ物性評価の最近の進展についてい報告する。放射顕微鏡（LTEM)を用いたBiFeO3など酸化物薄膜の自発分極イメージングとそのGaNウェファー評価への応用、高感度・広帯域パイロセンサへの応用が期待されるアモルファスYBCO薄膜のテラヘルツ物性評価、グラフェンの酸化ダイナミクスイメージングなどを紹介する。