[6p-A203-1~19] 12.4 有機EL・トランジスタ

△ [6p-A203-4] TOF測定法を用いたドープ型有機EL素子のキャリア挙動の解析

〇大谷 直也¹、有弥 田中^1,2、久夫 石井^1,2,3 (1.千葉大融合、2.千葉大先進、3.千葉大MCRC)

キーワード：有機EL、TOF測定

燐光材料をドープした有機EL素子ITO/CBP:Ir(ppy)₃(10wt%, 780nm)/Al半透膜(10nm)を作製し、定常電流の存在下でTOF測定を行うことでドープ層内のキャリア伝導を調べた。その結果、低電圧領域ではIr(ppy)₃がトラップとして働きホールが伝導しないが、多量の定常電流が流れる発光領域ではホール伝導が助けられることが示唆された。また、白色連続光を照射しながら測定を行うことで、光電流の存在がキャリア伝導に与える影響も調べた。