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[6p-S21-5] 素粒子崩壊点測定の為の半導体測定器
キーワード:半導体、放射線、検出器
実験素粒子物理学では生成された素粒子の種類を区別し、精密に性質を測定する。種類を区別する際に素粒子の寿命の違い持ちいる。ボトムクォーク、チャームクォークは比較的短い寿命を持ち、生成されてから数100um程度離れて崩壊する。そのため崩壊からの荷電粒子の飛跡を精密に再構成し、その崩壊点を測定することにより種類を区別する事が可能である。崩壊点の測定には高精度な半導体検出器が用いられる。本講演ではILCでの半導体崩壊点検出器についての概観を述べる。