[7a-A204-1~9] 16.3 シリコン系太陽電池

[7a-A204-9] P型単結晶Si太陽電池における電圧誘起劣化試験後のEL発光強度解析

〇小林 大祐¹、大島 拓也¹、石河 泰明¹、浦岡 行治¹ (1.奈良先端大)

キーワード：単結晶Si太陽電池、電圧誘起劣化(PID)、エレクトロルミネッセンス

本研究では，p型単結晶Si太陽電池モジュールにPID試験を数十時間毎に分けて行い，各段階でEL法を用いて発光強度を測定し，劣化過程の評価を試みた．