2017年第78回応用物理学会秋季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

1 応用物理学一般 » 1.5 計測技術・計測標準

[7p-A411-1~17] 1.5 計測技術・計測標準

2017年9月7日(木) 13:15 〜 18:00 A411 (411)

寺崎 正 (産総研)、菊永 和也 (産総研)、徳留 弘優(TOTO)

17:00 〜 17:30

[7p-A411-16] [1.応用物理学一般 分科内招待講演] 電子顕微鏡による異種接合界面の解析と接着メカニズムの解析

堀内 伸1 (1.産総研接着ラボ)

キーワード:接着、電子顕微鏡、界面

金属/高分子接合界面には、化学結合の有無、表面凹凸、高分子の結晶構造、分子量分布などバルクとは異なる構造が異なる空間スケールで含まれており、いかなる構造因子が接着特性と相関が強いかを明らかにすることがメカニズムを考える上で重要となる。電子顕微鏡によるトモグラフィー、EDX、EELS等の手法を駆使し、異種接合界面の構造を明らかにし、接着メカニズムを明らかにする。