2017年第78回応用物理学会秋季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

6 薄膜・表面 » 6.4 薄膜新材料

[7p-C23-1~22] 6.4 薄膜新材料

2017年9月7日(木) 13:45 〜 19:30 C23 (C23)

土屋 哲男(産総研)、室谷 裕志(東海大)

17:15 〜 17:30

[7p-C23-14] ステンレス系基板表面の摩擦を活用するカルコゲナイド系層状半導体MoS2薄膜形成

伊藤 孝郁1、田邉 匡生1、小山 裕1 (1.東北大院工)

キーワード:半導体、MoS2、トライボロジー

半導体結晶の新規成膜技術として、我々は摩擦を活用する簡便なプロセスを提案している。成膜する結晶としては層状構造を有するため分子1層で成膜できる可能性がある二硫化モリブデン(MoS2)に着目している。MoS2は電界効果型トランジスタのチャネルに応用でき、シリコンより高速かつ低消費電力での動作が期待されている。本研究では半導体デバイスサイズのMoS2薄膜形成を目指し、薄膜生成に適する基板表面について知見を得ることを目的とした。