The 78th JSAP Autumn Meeting, 2017

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Oral presentation

16 Amorphous and Microcrystalline Materials » 16.1 Fundamental properties, evaluation, process and devices in disordered materials

[7p-C24-1~20] 16.1 Fundamental properties, evaluation, process and devices in disordered materials

Thu. Sep 7, 2017 1:45 PM - 7:00 PM C24 (C24)

Koichi Kajihara(Tokyo Metropolitan Univ.), Kenji Shinozaki(AIST)

5:00 PM - 5:15 PM

[7p-C24-13] Correlation between Yb-O distance and photodarkening in Yb doped silica glass

Tomoya Okazaki1, Edson Haruhiko Sekiya1, Kazuya Saito1 (1.Toyota Tech. Inst.)

Keywords:silica glass, photodarkening

Yb添加シリカガラスにおいて、フォトダークニングの原因とその抑制メカニズムを明らかにするために、Yb周辺の局所構造の解明を行っている。EXAFS測定を用いて、フォトダークニングとYb-O結合距離の相関が明らかになりつつあり、今回はその途中結果を報告する。