[8a-C16-1~17] 17.2 Graphene

△ [8a-C16-7] Nanoscale determination of layer number of graphene by near-field mid-infrared

〇Akira Sasagawa¹, Takuya Okamoto¹, Yukio Kawano¹ (1.Tokyo tech)

Keywords:graphene, SNOM, evaluation method

グラフェンや二硫化モリブデンなどの原子層材料は、優れた電子・光学特性から近年注目を集めている。しかしながらその特性は結晶の二次元性に起因しているため、層数の制御が非常に重要であり、その分析装置が必要である。本講演では、我々はグラフェンの層数変化による光学応答の違いに着目し、新たな手法として走査型近接場光学顕微鏡(SNOM)を用いて層数の判別を行うことに成功したのでそれを報告する。