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△ [8a-C16-7] 中赤外光近接場顕微鏡を用いたグラフェンのナノスケール層数評価
キーワード:グラフェン、走査型近接場光学顕微鏡、測定手法
グラフェンや二硫化モリブデンなどの原子層材料は、優れた電子・光学特性から近年注目を集めている。しかしながらその特性は結晶の二次元性に起因しているため、層数の制御が非常に重要であり、その分析装置が必要である。本講演では、我々はグラフェンの層数変化による光学応答の違いに着目し、新たな手法として走査型近接場光学顕微鏡(SNOM)を用いて層数の判別を行うことに成功したのでそれを報告する。