[8a-C24-1~12] 16.1 Fundamental properties, evaluation, process and devices in disordered materials

△ [8a-C24-5] Solid-phase crystallization and characterization of bismuth vanadate oxide thin films by thermal treatment under uniaxial compression

〇Shoyo Ito¹, Rhotaro Namba¹, Nobuo Tutimine², Satoru Kaneko^1,3, Akihumi Matuda¹ (1.Tokyo Tech. Materials, 2.TOSHIMA Manu. Co., Ltd., 3.Kanagawa Ind. Sci. Tech.)

Keywords:bismuth vanadate oxide thin films, thermal treatment under uniaxial compression, oxygen ion conductor

層状構造をとるBi₂VO₅やBi₂VO_5.5は，酸素空孔に起因する酸素イオン伝導体として注目される。これまでにBi₂VO₅(V; 4+)は粉末固相反応法などにより作製されてきたが，単相および結晶配向性薄膜の作製やその物性に関する報告はまだ少ない。本研究では，Bi₂VO₅の結晶相と配向性制御および物性評価を目的として，一軸加圧下におけるBi-V-O系薄膜の固相結晶化が結晶相および特性にどのような影響を与えるか検討した。