The 78th JSAP Autumn Meeting, 2017

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8 Plasma Electronics » 8.2 Plasma measurements and diagnostics

[8a-PB3-1~8] 8.2 Plasma measurements and diagnostics

Fri. Sep 8, 2017 9:30 AM - 11:30 AM PB3 (P)

9:30 AM - 11:30 AM

[8a-PB3-3] Measurement of work function using semiconductor light source

Daiuske Kuwahara1, Mamiko Sasao2, Motoi Wada1 (1.Graduate school of Science and Engineering, Doshisha Univ., 2.Office of R&D promotion, Doshisha Univ.)

Keywords:negative hydrogen surface production, work function, semiconductor light source

水素負イオン生成においてプラズマ電極の仕事関数が重要なパラメーターだと考えられている.プラズマ電極の仕事関数の測定には光電子法が用いられており,信号強度が小さいことからレーザー等の強力光源が用いられてきた.近年,半導体光源の進歩により,半導体LEDでも高出力かつ短波長なものが開発されており,安価で小型な実験系の構築が期待できる.本研究では半導体LEDを用いた仕事関数の測定が可能かどうか実証実験を行う.