[8p-A405-1~13] 3.9 テラヘルツ全般

[8p-A405-1] [講演奨励賞受賞記念講演] テラヘルツ偏光計測を用いた黒色ゴムの内部歪み検査手法の開発

〇森脇 淳仁¹、岡野 真人¹、渡邉 紳一¹ (1.慶大理工)

キーワード：テラヘルツ分光、ゴム、歪み

代表的な工業用高分子材料の一つである黒色ゴムは、我々の身の回りで幅広く用いられている必要不可欠な材料である。実用的な観点から、材料の欠陥や状態を検査することは重要であるが、内部の歪み検査は既存の可視光を用いた方法では困難であった。しかし、我々はテラヘルツ光の高い透過性と偏光情報を組み合わせることで内部歪みを調べることに成功した。我々の開発した手法はテラヘルツ偏光計測の新たな応用例として重要である。