09:30 〜 11:30 △ [15a-P6-11] X線CTR散乱法によるGaN結晶表面の測定 〇海野 由佳1、安藤 香代子1、野口 彩純1、北島 由梨1、天貝 早希1、宮下 遥香1、秋本 晃一1 (1.日本女子大理)