16:30 〜 16:45 [16p-211-13] n型c-Si太陽電池モジュールの長時間電圧誘起劣化試験 〇(M1)小松 豊1、山口 世力1、増田 淳2、大平 圭介1 (1.北陸先端大、2.産総研)