13:30 〜 15:30 [15p-P7-2] 硬X線光電子分光法(HAXPES)によるゲルマニウムスズ薄膜の深さ方向化学結合状態評価(II) 〇臼田 宏治1、高石 理一郎1、吉木 昌彦1、須田 耕平2、小椋 厚志2、富田 充裕1 (1.東芝研開センター、2.明治大学)