Amici Renato Goes

発表者・著者、共著者

2017年3月14日(火) 13:15 〜 18:15 412 (412)

一般セッション(口頭講演)
| 6 薄膜・表面
| 6.2 カーボン系薄膜

[14p-412-1~18] 6.2 カーボン系薄膜

13:30 〜 13:45

▲ [14p-412-2] In-Situ Temperature Measurement of Diamond Devices using NV Centers

〇Amici Renato Goes¹、Iwasaki Takayuki^1,2、Makino Toshiharu^2,3、Kato Hiromitsu^2,3、Ogura Masahiko^2,3、Takeuchi Daisuke^2,3、Yamasaki Satoshi^2,3、Hatano Mutsuko^1,2 (1.Tokyo Institute of Technolgy、2.CREST、3.AIST)

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