一般セッション(口頭講演)
1 応用物理学一般 » 1.5 計測技術・計測標準
2017年3月16日(木) 09:00 〜 12:15 423 (423)
△：奨励賞エントリー
▲：英語発表
▼：奨励賞エントリーかつ英語発表
空欄：どちらもなし
09:00 〜 09:15
〇安田 正美1、佐藤 拓海2、畠山 温2 (1.産総研、2.農工大)
スケジュール
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09:15 〜 09:30
〇坂口 孝幸1 (1.産総研物質計測標準)
スケジュール
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09:30 〜 09:45
〇(B)瀬戸 海登1、潮見 幸江1、木村 洋介1、薛 凱倫1、山田 功1 (1.群大理工)
スケジュール
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09:45 〜 10:00
〇穀山 渉1、野里 英明1、大田 明博1、服部 浩一郎1 (1.産総研)
スケジュール
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10:00 〜 10:15
〇鈴木 淳1 (1.産総研分析計測標準RI)
スケジュール
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10:15 〜 10:30
〇天野 みなみ1、阿部 恒1 (1.産総研)
スケジュール
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10:30 〜 10:45
〇久保 結丸1,2,3、ビアンフェ オードレー3、プラ ジャリード4、モルトン ジョン4、ベルテ パトリス3 (1.沖縄科技大、2.JSTさきがけ、3.サクレー研、4.ロンドン大)
スケジュール
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10:45 〜 11:00
〇牧田 祐樹1、青柳 稔1 (1.日本工大工)
スケジュール
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11:00 〜 11:15
〇長久保 洋介1、佐々木 教真2、目黒 栄3、石橋 隆幸1 (1.長岡技科大、2.株式会社オフダイアゴナル、3.ネオアーク株式会社)
スケジュール
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11:15 〜 11:30
〇飯田 仁志1、木下 基1 (1.産総研)
スケジュール
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11:30 〜 12:00
〇園畑 素樹1、萩原 世也2、寺崎 正3、井上 貴雄4、馬渡 正明1 (1.佐賀大整形、2.佐賀大理工、3.産総研、4.山口大脳外)
スケジュール
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12:00 〜 12:15
〇(M1)豊増 孝志1,2、寺崎 正1、園畑 素樹3 (1.産総研、2.佐賀大院工、3.佐賀大整形)
スケジュール
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