PDF ダウンロード スケジュール 7 いいね! 0 コメント (0) 11:45 〜 12:00 [14a-213-11] フーリエ変換赤外分光法によるSi(100)基板上のSr2SiO4薄膜の評価 〇谷脇 将太1、馬野 光博1、新船 幸二1、吉田 晴彦1、佐藤 真一1、堀田 育志1 (1.兵庫県立大学) キーワード:シリケイト、薄膜、Sr2SiO4