2017年第64回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

6 薄膜・表面 » 6.2 カーボン系薄膜

[14a-412-1~12] 6.2 カーボン系薄膜

2017年3月14日(火) 09:00 〜 12:15 412 (412)

小山 和博(デンソー)、牧野 俊晴(産総研)

10:15 〜 10:30

[14a-412-6] 浅い単一NVセンターの規則的配列を用いた表面の水素核スピンの検出

福田 諒介1、東又 格1、岡田 拓真1、加賀美 理沙1、寺地 徳之2、小野田 忍3、春山 盛善3,4、山田 圭介3、稲葉 優文1、山野 颯1、Priyadharshini Balasubramanian5、Felix Stuerner5、Simon Schmitt5、Liam McGuinness5、Fedor Jelezko5、大島 武3、品田 高宏6、川原田 洋1、加田 渉4、花泉 修4、磯谷 順一7、谷井 孝至1 (1.早大理工、2.物材機構、3.量研機構、4.群大、5.ウルム大、6.東北大、7.筑波大)

キーワード:NVセンター、ダイヤモンド

ダイヤモンド中のNVセンターは優れた電子スピン特性をもち、光検出パルス磁気共鳴を基軸とした量子センシングのプローブへの応用が期待されている。1分子検出に向けては、良質なNVセンターを標的分子に近接して配置させる必要がある。本講演では、電子線リソグラフィと低エネルギーでの窒素イオン注入による浅い単一NVセンターの規則配列形成、XY-8法によるダイヤモンド表面の水素原子の核スピン検出について発表する。