[14a-412-1~12] 6.2 Carbon-based thin films

△ [14a-412-7] Nanoscale Magnetic Resonance Measurement of Defects near NV Center Created by Ion Implantation

〇moriyoshi haruyama^1,2, Shinobu Onoda², Wataru Kada¹, Junichi Isoya³, Tokuyuki Teraji⁴, Hayate Yamano⁵, Hiroshi Kawarada⁵, Takeshi Ohshima², Osamu Hanaizumi¹ (1.Gunma Univ., 2.QST, 3.Univ. of Tsukuba, 4.NIMS, 5.Waseda univ.)

Keywords:NV center

ダイヤモンド中のNVセンターは、その優れた磁気光学特性から量子コンピューターや量子センサーとしての応用が期待されている。イオン注入によるNVセンター形成の課題として、周囲にコヒーレンスを乱す欠陥が残存してしまうことが挙げられる。そのため、NVセンターの周囲にどの程度欠陥が残存しているかを調べることが重要となる。本研究ではNVセンター近傍の欠陥を、パルス光検出磁気共鳴法を用いて測定した結果について報告する。