[14p-302-1~17] 12.4 有機EL・トランジスタ

△ [14p-302-6] フーリエ変換イオンサイクロトロン共鳴質量分析法を用いた有機EL素子の劣化解析

〇重松 沙樹¹、宮里 朗夫¹、酒井 平祐¹、村田 英幸¹ (1.北陸先端大先端科学技術)

キーワード：有機EL素子、解析

本研究では、有機EL 材料をLDI法とESI 法を用いてイオン化し、フーリエ変換イオンサイクロトロン共鳴質量(FT-ICR-MS)分析法で測定した。その結果、イオン化法によって異なったMS スペクトルが得られた。このことを利用して劣化後の有機EL 素子中で生じる劣化反応を推定できることが分かった。さらに、劣化前後の有機EL素子の抽出物をESI法でイオン化しFT-ICR-MSを用いて測定したところ、劣化の進行に伴って増加するMSピークを確認できたので報告する。