[14p-311-1~19] 12.2 Characterization and Materials Physics

△ [14p-311-11] Direct observation of a negative carrier state in an organic transistor structure by operando photoelectron yield spectroscopy

〇Keitaro Ikegami¹, Hiroumi Kinjo¹, Tomoya Sato¹, Yuya Tanaka^1,2, Hisao Ishii^1,2,3 (1.AIS, Chiba Univ., 2.CFS, Chiba Univ., 3.MCRC, Chiba Univ.)

Keywords:Operando Photoelectron Yield Spectroscopy (PYS), Negative carrier state, Organic Field-Effect Transistor (OFET)

我々はFET構造を測定対象としたオペランド光電子収量分光(PYS)を試みた。光電子分光(PES)では不均一電場やチャージアップが懸念されるFET構造においてPYSを用いることを考案し、実際に電極から有機層に電子注入した負イオン(占有された中性分子のLUMO)の直接観測に初めて成功した。本来の伝導キャリア状態である負イオンを直接観察できることの意義は極めて大きく、“駆動状態”のデバイスへの応用等の新たな展望が期待できる。