[14p-311-1~19] 12.2 評価・基礎物性

△ [14p-311-11] オペランド光電子収量分光法による有機トランジスタ構造における負のキャリア状態の直接観測

〇池上 慶太郎¹、金城 拓海¹、佐藤 友哉¹、田中 有弥^1,2、石井 久夫^1,2,3 (1.千葉大院融合、2.千葉大先進、3.千葉大MCRC)

キーワード：オペランド光電子収量分光法、負のキャリア状態、有機トランジスタ

我々はFET構造を測定対象としたオペランド光電子収量分光(PYS)を試みた。光電子分光(PES)では不均一電場やチャージアップが懸念されるFET構造においてPYSを用いることを考案し、実際に電極から有機層に電子注入した負イオン(占有された中性分子のLUMO)の直接観測に初めて成功した。本来の伝導キャリア状態である負イオンを直接観察できることの意義は極めて大きく、“駆動状態”のデバイスへの応用等の新たな展望が期待できる。