2017年第64回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

12 有機分子・バイオエレクトロニクス » 12.2 評価・基礎物性

[14p-311-1~19] 12.2 評価・基礎物性

6.6と12.2のコードシェアセッションあり

2017年3月14日(火) 13:15 〜 18:30 311 (311)

山田 洋一(筑波大)、金井 要(東理大)、筒井 真楠(阪大)

16:30 〜 16:45

[14p-311-13] 励起波長依存型高感度紫外光電子分光による状態密度のワイドレンジ計測:計測手法の評価および絶縁性試料への適用

佐藤 友哉1、金城 拓海1、山崎 純暉1、石井 久夫1,2,3 (1.千葉大院融合、2.千葉大先進、3.千葉大MCRC)

キーワード:励起波長依存型高感度紫外光電子分光、有機半導体、絶縁性高分子