[14p-414-1~17] 6.6 Probe Microscopy

[14p-414-17] High-resolution imaging of water monolayers by atomic force microscopy

〇Akitoshi Shiotari¹, Yoshiaki Sugimoto¹ (1.Univ. of Tokyo)

Keywords:atomic force microscopy, scanning tunneling microscopy, ultrathin water film

金属表面上の水薄膜の構造決定は、その表面の濡れ性や触媒反応性を理解するために不可欠である。本研究では、超高真空・低温環境下において銅表面上に成長した水単分子層を、一酸化炭素終端探針 (CO tip) を用いた原子間力顕微鏡 (AFM) によって直接観察した。AFMを用いることで、同時測定したSTM像では分解できなかった個々の水分子の位置を可視化し、水素結合ネットワークの局所構造を解明することに成功した。