X線マイクロビームを用いた窒化物系単一ナノワイヤ上Ga<sub>1-x</sub>In<sub>x</sub>N/GaN量子井戸の構造評価

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一般セッション(口頭講演)

13 半導体 » 13.7 ナノ構造・量子現象

[14p-E205-1~14] 13.7 ナノ構造・量子現象

2017年3月14日(火) 13:45 〜 17:30 E205 (E205)

15:00 〜 15:15

〇(M1)清木良麻¹、澁谷弘樹¹、今井康彦²、隅谷和嗣²、木村滋²、岩瀬航平¹、宮嶋孝夫¹、上山智¹、今井大地¹、竹内哲也¹、岩谷素顕¹、赤崎勇¹ (1.名城大理工、2.高輝度光科学研)

キーワード：GaN系ナノワイヤ、X線回折