The 64th JSAP Spring Meeting, 2017

Presentation information

Oral presentation

15 Crystal Engineering » 15.7 Crystal evaluation, impurities and crystal defects

[14p-F201-1~14] 15.7 Crystal evaluation, impurities and crystal defects

Tue. Mar 14, 2017 1:45 PM - 5:30 PM F201 (F201)

Koji Sueoka(Okayama Pref. Univ.), Satoshi Nakano(Kyushu Univ.)

1:45 PM - 2:00 PM

[14p-F201-1] Efficient mapping using a data-driven approach (1)

Ryota Kikuchi1, 〇Kentaro Kutsukake2, Momoko Deura2, Yutaka Ohno2, Koji Shimoyama1, Ichiro Yonenaga2 (1.IFS, Tohoku Univ., 2.IMR, Tohoku Univ.)

Keywords:mapping, data-driven, optimization

試料表面上の測定位置などを変えて物理量の空間分布を求めるマッピング測定は、理工研究では極めて基礎的な測定である。多くの場合では等間隔な座標でマッピングされるが、その場合、値の変化のない場所でも測定を行なうなど目的に対して非効率な測定点も含まれる。そこで本研究では、より少ない測定点数からより確からしい物理量分布を得る効率的なマッピングを目指して、データ科学的手法を検討した。本発表では方法の概念と手順を説明する。