2017年第64回応用物理学会春季学術講演会

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[14p-P10-1~98] 10 スピントロニクス・マグネティクス(ポスター)

2017年3月14日(火) 16:00 〜 18:00 P10 (展示ホールB)

16:00 〜 18:00

[14p-P10-22] Local structure analysis of MnGa and MnGe thin films by HAADF-STEM observation

高橋 茂樹1 (1.サムスン日本研究所)

キーワード:HAADF-STEM, magnetic metal, thin film

High-angle annular dark-field scanning transmission electron microscopy (HAADF-STEM) is valuable for observation technology of crystal and interface structures with atomic resolution, and it can be applied for detailed local analysis in conjunction with microscopy-related analytical techniques. These physical analyses were applied for ordered ferromagnetic alloy thin films, MnGa and MnGe, which were studied for STT-MRAM application.