2017年第64回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

8 プラズマエレクトロニクス » 8.2 プラズマ診断・計測

[15a-301-1~7] 8.2 プラズマ診断・計測

2017年3月15日(水) 09:00 〜 10:45 301 (301)

石川 健治(名大)

10:00 〜 10:15

[15a-301-5] Ar誘導熱プラズマへのTi原料投入時におけるトーチ内のTi励起温度分布およびTi蒸気混入率の二次元分布の推定

兒玉 直人1、石坂 洋輔1、清水 光太郎1、田中 康規1、上杉 喜彦1、石島 達夫1、末安 志織2、渡邉 周2、中村 圭太郎2 (1.金沢大院自然、2.日清製粉グループ本社)

キーワード:熱プラズマ、分光計測

誘導熱プラズマ(ICTP)を用いた金属材料の処理プロセスでは,ICTPへの微量の金属蒸気の混入がICTPの性状や物性を大きく変化させる.よって,プロセス時におけるトーチ内の金属蒸気混入率分布を検討することは極めて重要である.本発表では,Ar-ICTPへのTi原料投入時におけるトーチ内の温度やTi蒸気混入率の二次元分布の推定結果を述べる.また,Ti原子密度や電子密度分布の推定結果についても述べる.