2017年第64回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

8 プラズマエレクトロニクス » 8.2 プラズマ診断・計測

[15a-301-1~7] 8.2 プラズマ診断・計測

2017年3月15日(水) 09:00 〜 10:45 301 (301)

石川 健治(名大)

10:15 〜 10:30

[15a-301-6] 水素プラズマのシース部とプレシース部に対する異種イオンの影響

〇(M1)川上 皓太郎1、西山 修輔1、佐々木 浩一1 (1.北大工)

キーワード:シース、電界

飽和吸収分光法によりプラズマ中のシース部の電界構造の解析を目的とした計測を純水素プラズマと水素-アルゴン混合プラズマを対象として行った。水素原子のバルマーα線の微細構造スペクトルを飽和吸収分光法で計測し,2P2/3-3D2/3遷移と2P2/3-3D2/5遷移のピーク間隔がシュタルク効果によって変化することを利用して電界を求めた。結果、異種イオンによるシース電界構造の変化が確認できた。