[15a-303-1~9] 6.6 プローブ顕微鏡

[15a-303-1] 走査型熱振動顕微鏡法による高分子膜下の金ナノ粒子の可視化

〇野坂 俊太¹、木村 邦子¹、小林 圭¹、山田 啓文¹ (1.京大工)

キーワード：AFM、表面下