[15a-P4-1~13] 1.5 計測技術・計測標準

[15a-P4-1] 凍結乾燥法による、シリコン基板上へのナノ粒子の分散

〇重藤 知夫¹ (1.産総研分析計測標準)

キーワード：ナノ粒子、原子間力顕微鏡、凍結乾燥

比較的高温の冷凍機を用いて熱伝導率の低いシリコン基板上にナノ粒子分散液を凍結乾燥展開する手法を開発した。粒径50nm程度以上のナノ粒子で孤立粒子主体の試料が得られることが、AFM計測から分かった。