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[15p-211-15] 走査型非線形誘電率顕微鏡を用いたリンイオン注入単結晶Si太陽電池の活性化ドーパント分布の定量評価及び実効拡散係数の推定
キーワード:半導体、容量、ドーピング
太陽電池内部のドーパント分布は効率に関わる重要な評価対象である.我々は走査型非線形誘電率顕微鏡(SNDM)を用いてリンイオン注入単結晶Si太陽電池の断面の活性化ドーパント分布を定量的に可視化した.その定量計測結果から実効拡散係数Deffを推定した.イオン注入条件とDeffから3次元の拡散をシミュレーションすると,SNDMの実測結果と良い一致を示した.この結果からSNDMによるドーパント分布の定量評価が有効であると結論付けられる.