2017年第64回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

16 非晶質・微結晶 » 16.3 シリコン系太陽電池

[15p-211-1~18] 16.3 シリコン系太陽電池

2017年3月15日(水) 13:30 〜 18:15 211 (211+212)

新船 幸二(兵庫県立大)、小出 直城(シャープ)

17:15 〜 17:30

[15p-211-15] 走査型非線形誘電率顕微鏡を用いたリンイオン注入単結晶Si太陽電池の活性化ドーパント分布の定量評価及び実効拡散係数の推定

廣瀬 光太郎1、棚橋 克人2、高遠 秀尚2、長 康雄1 (1.東北大通研、2.産総研)

キーワード:半導体、容量、ドーピング

太陽電池内部のドーパント分布は効率に関わる重要な評価対象である.我々は走査型非線形誘電率顕微鏡(SNDM)を用いてリンイオン注入単結晶Si太陽電池の断面の活性化ドーパント分布を定量的に可視化した.その定量計測結果から実効拡散係数Deffを推定した.イオン注入条件とDeffから3次元の拡散をシミュレーションすると,SNDMの実測結果と良い一致を示した.この結果からSNDMによるドーパント分布の定量評価が有効であると結論付けられる.