The 64th JSAP Spring Meeting, 2017

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Oral presentation

6 Thin Films and Surfaces » 6.4 Thin films and New materials

[15p-311-1~18] 6.4 Thin films and New materials

Wed. Mar 15, 2017 1:15 PM - 6:15 PM 311 (311)

Kentaro Shinoda(AIST), Yoshinobu Nakamura(Univ. of Tokyo), Kyoko Namura(Kyoto Univ.)

5:30 PM - 5:45 PM

[15p-311-16] Influence of Surface Roughness of Aluminum Alloy on Yttria Film by Chelate Flame Method

Takashi Costa1, Atsushi Nakamura2, Keiji Komatsu1, Hidetoshi Saitoh1 (1.Nagaoka Univ.Tech., 2.Chubu Chelest Co.,Ltd.)

Keywords:chelate flame method, yttria film, aluminum alloy

前回の報告では、キレートフレーム法により合成されたイットリア膜は機械的接合と化学的結合の両方によって接合していると考えられた。今回は、表面粗さを変えたアルミニウム合金上にイットリア膜を堆積させ、その表面粗さがイットリア膜へ及ぼす影響を調査した。表面粗さによる気孔率、及び膜厚の変化は確認されなかった。また、各試料のY2O3膜/A5052基板界面においてY、Al及びMg各元素の拡散現象は確認されなかった。